關(guān)鍵詞：信號(hào)完整性，測試
摘要：本規(guī)范詳細(xì)描述了單板信號(hào)質(zhì)量測試的方法。 包括各種信號(hào)波陣數(shù)的定義、信號(hào)質(zhì)量測試的條件、覆蓋范圍、合格標(biāo)準(zhǔn)、信號(hào)分類、各種信號(hào)波陣數(shù)的指標(biāo)、測試點(diǎn)的選擇、重點(diǎn)用于分析測試結(jié)果。
首字母縮略詞列表：
SI 信號(hào)完整性
TTL-Logic 晶體管-晶體管邏輯
互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體
低電流 TTL
低電流CMOS
發(fā)射極耦合邏輯
PECL/Logic 偽發(fā)射極耦合邏輯
LVDS 低低電流差分信號(hào)
無線電收發(fā)器邏輯
- 高速收發(fā)邏輯
- 改進(jìn)高速收發(fā)器邏輯
差分 HSTL
-Logic Pin系列終端邏輯
SPI串行外設(shè)插座
集成電路間總線
USB總線通用串行總線
1 簡介
《信號(hào)質(zhì)量測試規(guī)范》是在總結(jié)多年實(shí)際工作經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上制定的，目的是規(guī)范和指導(dǎo)硬件調(diào)試、硬件測試和生產(chǎn)測試過程中的信號(hào)質(zhì)量測試方法和手段。
二、適用范圍
該規(guī)范作為開發(fā)和試點(diǎn)測試中信號(hào)質(zhì)量測試的通用標(biāo)準(zhǔn)。
本規(guī)范適用于所有數(shù)字信號(hào)的調(diào)試和測試過程。 測試應(yīng)涵蓋各個(gè)功能模塊，包括電源、時(shí)鐘、復(fù)位電路、CPU最小系統(tǒng)、外接插座（E1、網(wǎng)口、串口等）、邏輯芯片（CPLD/FPGA）、專用電路等。
模擬電路由于其信號(hào)的連續(xù)變化，不能直接適用本規(guī)范，可酌情參考。
本文檔未包含的內(nèi)容：非信號(hào)質(zhì)量測試內(nèi)容。 例如，不適用于某些硬件插座指標(biāo)測試、系統(tǒng)硬件尺寸測試、環(huán)境測試、EMC測試、安全測試、保護(hù)測試、振動(dòng)測試等。
3. 信號(hào)質(zhì)量測試概述
3.1 信號(hào)完整性的概念
今天的高速數(shù)字系統(tǒng)可以運(yùn)行在幾千兆赫茲的時(shí)鐘頻率上，它們的快速斜率瞬變和極高的工作頻率，再加上它們的高電路密度，最終會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)的行為與低速設(shè)計(jì)截然不同，信號(hào)完整性出現(xiàn)問題。 信號(hào)完整性的破壞將直接導(dǎo)致信號(hào)失真、時(shí)序錯(cuò)誤，形成不正確的數(shù)據(jù)、地址和控制信號(hào)，從而導(dǎo)致系統(tǒng)故障甚至系統(tǒng)崩潰。 為此，信號(hào)完整性問題已經(jīng)越來越引起高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)者的重視。
如果電路中的信號(hào)能夠以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電流幅值到達(dá)IC，則電路具有更好的信號(hào)完整性。 相反，當(dāng)信號(hào)沒有正確響應(yīng)時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)信號(hào)完整性問題。 SI()解決了信號(hào)傳輸過程中的質(zhì)量問題，特別是在高速領(lǐng)域，數(shù)字信號(hào)的傳輸不能只考慮邏輯實(shí)現(xiàn)，而數(shù)字元器件開關(guān)行為在化學(xué)實(shí)現(xiàn)中的模擬效應(yīng)往往成為設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵。
3.2 信號(hào)質(zhì)量
常見的信號(hào)質(zhì)量問題表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：
6）其他信號(hào)質(zhì)量問題原因：
噪音
噪聲表現(xiàn)為信號(hào)通過信號(hào)線時(shí)，PCB板上與其相鄰的信號(hào)線
只有這樣才會(huì)誘發(fā)相關(guān)信號(hào)，我們稱之為噪聲。
干擾通常表現(xiàn)為毛刺。
信號(hào)線離相位線越近，線寬越大，形成的駐波信號(hào)越小。異步信號(hào)與時(shí)鐘
信號(hào)更容易形成駐波。 因此，去擁塞的方法是去除擁塞的信號(hào)或屏蔽嚴(yán)重干擾的信號(hào)。
電磁輻射
EMI(-) 代表電磁干擾，它會(huì)導(dǎo)致問題，包括過度
電磁輻射和對電磁輻射的敏感性。 EMI是指數(shù)字系統(tǒng)在通電運(yùn)行時(shí)，會(huì)向周圍環(huán)境輻射電磁波，從而干擾周圍環(huán)境中電子設(shè)備的正常工作。 其形成的主要原因是電路工作頻率過高和布局布線不合理。 目前已有EMI仿真的軟件工具，但EMI仿真器價(jià)格昂貴，仿真參數(shù)和邊界條件的設(shè)置難度很大，直接影響仿真結(jié)果的準(zhǔn)確性和實(shí)用性。 最通用的做法是將控制EMI的各種設(shè)計(jì)規(guī)則應(yīng)用到設(shè)計(jì)的各個(gè)環(huán)節(jié)，實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)各個(gè)環(huán)節(jié)的規(guī)??則驅(qū)動(dòng)和控制。
4.信號(hào)質(zhì)量測試條件
4.3 示波器選用及使用要求：
1）測試前，確保被測儀器（）與被測單板或系統(tǒng)共地。 如果沒有共地，相線懸空，可能會(huì)得到錯(cuò)誤的測試結(jié)果。 接地內(nèi)容參見第8節(jié)“測試系統(tǒng)接地說明”；
2）儀器在測試前需要進(jìn)行校準(zhǔn)；
3）為保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，應(yīng)盡可能使用高輸入阻抗、小電容、高帶寬、高帶寬示波器的有源探頭；
4）示波器的帶寬：描述示波器固有的上升時(shí)間（即信噪比）。 探頭和示波器的帶寬應(yīng)超過信號(hào)帶寬3~5倍以上；
5）示波器的采樣速度：用每秒采樣數(shù)（S/s）表示，是指數(shù)字示波器對信號(hào)進(jìn)行采樣的頻率。 為了準(zhǔn)確再現(xiàn)信號(hào)，根據(jù)香農(nóng)（）定理，示波器的采樣速度必須至少是信號(hào)最高頻率分量的兩倍；
6）電阻值盡量小，波形盡量擴(kuò)大，以便于觀察波形變化的細(xì)節(jié)，準(zhǔn)確檢測其幅值；
7）檢測信號(hào)的邊沿時(shí)，應(yīng)選擇合適的邊沿觸發(fā)；
8）所有高端示波器都有毛刺捕捉模式，可以用來捕捉毛刺；
9）泰克示波器提供檢測信號(hào)異常、數(shù)據(jù)信號(hào)眼圖異常和高低電平毛刺的功能，檢測眼圖、毛刺、紋波等瞬時(shí)變化的波形；
4.4 探頭選擇和使用要求
1) 不允許在探頭仍與被測電路連接時(shí)插拔探頭；
2）有源探頭、差分探頭、電流探頭是非??常昂貴的設(shè)備，要注意保護(hù)。 在插拔探頭之前必須關(guān)閉示波器。 無源探頭通常沒有硬性規(guī)定，但出于可靠性考慮，建議所有探頭不能熱插拔，并且在插拔任何探頭之前必須關(guān)閉示波器；
3）探頭的相線只能接電路板上的相線，不能接電路板的正負(fù)電源端子。 否則可能造成電路板元器件損壞，甚至燒毀探頭的小夾子和探頭本身；
4）探頭的電容越小，其對電路的負(fù)載越小，測試結(jié)果越準(zhǔn)確。 選擇時(shí)請根據(jù)情況慎重考慮；
5）探頭有檢測范圍，不要用它來測量大信號(hào)，以免對探頭造成損壞。 例如：當(dāng)信號(hào)幅度超過±40V時(shí)，用有源探頭P6245、P6243檢測會(huì)導(dǎo)致探頭損壞；
6) 差分探頭所能檢測的差分電流范圍是有限的。 例如，差分探頭P6247上的開關(guān)在÷10位置時(shí)，可測量的差分電流量程為±8.5V，而在÷1位置時(shí)，僅為±850mV。 當(dāng)差分信號(hào)的峰峰值超過850mV（如公司常用的平衡線路傳輸信號(hào)為±5V）時(shí)，注意÷10的選擇，否則顯示的波形會(huì)因輸入太大；
7) 需要先校準(zhǔn)電壓探頭。 每測試一個(gè)信號(hào)，需要校準(zhǔn)一次；
8）使用時(shí)，探頭應(yīng)盡量垂直于被測面。 但不要用力按壓，以免損壞探頭；
4.5 測試點(diǎn)的選擇
1）通常只測試板子接收到的信號(hào)，不測試發(fā)送的信號(hào)；
2）信號(hào)質(zhì)量測試點(diǎn)要求在信號(hào)末端進(jìn)行測試（根據(jù)當(dāng)前信號(hào)流向確定測試點(diǎn)）。 盡量在芯片的輸入引腳上檢測，或者盡量靠近輸入引腳；
3）很多信號(hào)在單板上會(huì)經(jīng)過多級匹配驅(qū)動(dòng)。 該輸入信號(hào)的測試點(diǎn)應(yīng)選在芯片匹配后的輸入端。 建議對各級驅(qū)動(dòng)芯片的輸入端進(jìn)行測試；
4）對于同一信號(hào)在不同拓?fù)潼c(diǎn)（如星型拓?fù)洌┑那闆r，信號(hào)質(zhì)量差異很大，因此通常要求必須測試所有輸入點(diǎn)的信號(hào)質(zhì)量；
5）測試信號(hào)應(yīng)盡量靠近接地，減少接地分支面積；
5. 信號(hào)質(zhì)量測試通用標(biāo)準(zhǔn)
5.1 信號(hào)電平說明：
信號(hào)質(zhì)量涉及的幾個(gè)概念：
波形周期 對于重復(fù)波形，相鄰兩個(gè)重復(fù)波形之間的間隔定義為波形周期
周期，其倒數(shù)為波形頻率。
波形長度 波形電流上升到波形幅度的50%，直到波形電流上升到波形幅度的50%
停止時(shí)間。
上升時(shí)間 波形電流從波形幅度的 10% 上升到 90% 所需的時(shí)間。
增長時(shí)間 波形電流從波形幅度的 90% 增加到 10% 所需的時(shí)間。
轉(zhuǎn)矩是指波形長度與周期的比值，例如方波的基頻為50%。
高水平是一個(gè)門檻。 當(dāng)信號(hào)電平超過這個(gè)值時(shí)，將被認(rèn)為是高電平，即'1'。
在應(yīng)用程序中，有輸入點(diǎn)和輸出點(diǎn)。
低電平是一個(gè)閾值。 當(dāng)信號(hào)電平低于該值時(shí)，將被認(rèn)為是低電平，即'0'。
應(yīng)用程序中也有輸入和輸出點(diǎn)。
輸入高電平
(VIH)
保證邏輯門輸入為高電平時(shí)允許的最小輸入高電平，當(dāng)輸入電平為
當(dāng)它低于 VIH 時(shí)，輸入電平被認(rèn)為是高電平。
輸入低電平
(VIL)
保證邏輯門的輸入為低電平時(shí)允許的最大輸入低電平，當(dāng)輸入電平為
當(dāng)高于VIL時(shí)電流與電壓成什么比，感覺輸入電平低。
輸出高電平
(VOH)
保證邏輯門輸出為高電平時(shí)輸出電平的最小值，邏輯門輸出為
高電平時(shí)電平值必須大于此VOH。
輸出低電平
(卷)
保證邏輯門輸出為低電平時(shí)輸出電平的最大值，邏輯門輸出為
低電平時(shí)電平值必須小于此VOL。
門限等級
(VT)
數(shù)字電路芯片中有一個(gè)閾值電平，就是電路剛好能轉(zhuǎn)過來的電平。
等級。 它是 VIL 和 VIH 之間的電流值。對于 CMOS 電路，閾值
水平，這基本上是二分之一的電源電流value.But確保穩(wěn)定的輸出，有必要
要求輸入高電平>VIH，輸入低電平
上下，即VIL～VIH區(qū)域，電路的輸出會(huì)處于不穩(wěn)定狀態(tài)。
【注意】對于普通的邏輯電平，上述參數(shù)的關(guān)系如下：VOH>VIH>VT>VIL>VOL。
5.2 資格標(biāo)準(zhǔn)
5.3 信號(hào)質(zhì)量測試結(jié)果分析注意事項(xiàng)
1）窄脈沖有設(shè)計(jì)缺陷（如邏輯設(shè)計(jì)缺陷）等，不屬于信號(hào)質(zhì)量要求范圍，屬于設(shè)計(jì)錯(cuò)誤，必須改正；
2）參照信號(hào)的用途，分析信號(hào)質(zhì)量對單板的影響。
在某些情況下，信號(hào)質(zhì)量差不一定會(huì)影響系統(tǒng)，因此不能簡單地參考指標(biāo)。 例如，數(shù)據(jù)線和地址線都是電平有效信號(hào)，但一般都是在讀/寫控制信號(hào)的上升沿/上升沿采樣，邊沿處的信號(hào)質(zhì)量對系統(tǒng)影響不大。 因此，在選擇我們關(guān)心的測試指標(biāo)時(shí)，一定要根據(jù)自己的需要來選擇。 還應(yīng)該強(qiáng)調(diào)的是，似乎對系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)沒有影響的邊緣過沖可能對組件的使用壽命產(chǎn)生不利影響。
3）根據(jù)元器件本身的設(shè)計(jì)和工藝，酌情考慮輸入信號(hào)的過沖對元器件的影響。
現(xiàn)在的CMOS工藝輸入電平可以達(dá)到0~7V，所以高電平過沖對元器件影響不大，主要關(guān)注的應(yīng)該是低電平過沖。 元件功能異?？赡懿粌H與低電平超調(diào)的大小有關(guān)，還與低電平超調(diào)的時(shí)間長短有關(guān)。 對于CMOS元件，要特別注意其低電平過沖的影響，可能造成閂鎖。 對于不同的元器件，其低電平要求應(yīng)滿足制造商規(guī)定的要求。
4）當(dāng)信號(hào)波形不標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可能是信號(hào)處于三態(tài)，或者板子此時(shí)沒有使用信號(hào)。 對于這個(gè)信號(hào)，要注意分析信號(hào)是否在有效周期內(nèi)。 如果在無效期，則可視為正常信號(hào)。 .
6、信號(hào)質(zhì)量測試方法
6.1 電源信號(hào)質(zhì)量測試
6.1.1 說明
電源本身有各種參數(shù)。 配合產(chǎn)品使用時(shí)，在實(shí)際工作過程中一定要注意電源的各項(xiàng)輸出參數(shù)是否符合要求。 個(gè)別電源參數(shù)，與產(chǎn)品配合使用時(shí)的電源參數(shù)往往不同。 我們必須在實(shí)際應(yīng)用中對電源的每一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)的測試，以保證產(chǎn)品（系統(tǒng)）的正常運(yùn)行。
這里討論的是電源工作時(shí)輸出信號(hào)參數(shù)的測試方法和要求。
6.1.2 測試項(xiàng)目
1）測試電流值（準(zhǔn)確度）
2）測試電源噪聲/噪聲
3）測試電流通斷波形
4）慢啟動(dòng)電路參數(shù)檢測
5）測試電源電壓和沖擊電壓
6）測試電源報(bào)警信號(hào)
7）測試冗余電源的均流參數(shù)
6.1.3 試驗(yàn)方法
1）測試電流值（準(zhǔn)確度）
測試儀器萬用表（或示波器+無源探頭）
測試方法以測試芯片后端輸入電流（DC）為例，測試工具：萬用表（或顯示器
6.1.3 試驗(yàn)方法
1）測試電流值（準(zhǔn)確度）
測試儀器萬用表（或示波器+無源探頭）
測試方法以測試芯片后端輸入電流（DC）為例，測試工具：萬用表（或顯示器
示波器）。 將萬用表黑色底座（或示波器探頭的地線）接到被測電源的地，紅色底座（或示波器探頭的探頭）接到被測電流。 需要在板子空載和滿載時(shí)分別測試電流精度。 測試點(diǎn) 1）電源（DC/DC、LDO等）的電流輸出腳；
2）芯片的電源引腳；
驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)通常在標(biāo)稱電流值的 ±5% 以內(nèi)。 根據(jù)芯片的電流要求確定。
注意事項(xiàng) 1）確保數(shù)字萬用表的電池充滿電，否則測試結(jié)果會(huì)有較大偏差；
2）不建議用示波器測試電流精度，因?yàn)闀?huì)有誤差。萬一要用
檢查示波器的電流精度，需要設(shè)置為DC，取均方根值；
2）測試電源噪聲/噪音
定義噪聲：是出現(xiàn)在輸出端之間，與輸入頻率和開關(guān)頻率同步的成分。
用有效值表示，通常在輸出電流的0.5%以下； 噪聲：是輸出端之間出現(xiàn)的噪聲以外的高頻成分，也用峰峰值（）值表示，通常在輸出電流的1%%以下； 噪聲噪聲：是上述“紋波”和“噪聲”的綜合，用峰峰值（）值表示，通常要求在輸出電流的2%以下。 測試儀器示波器測試儀器。 推薦使用模擬示波器，如果沒有模擬示波器，盡量使用無源
探測。
測試方法
1.采用相線環(huán)對接檢測法，即所謂對接檢測。示波器設(shè)置帶寬
( )為20MHz，直流偏置電流 ( )為內(nèi)部電流精度測量
.Use a probe with a phase wire loop, 將探頭直接接觸電源引腳，相線環(huán)
直接接負(fù)輸出的引腳，這樣示波器讀出的峰峰值就是輸出線
噪音;
2、將示波器的帶寬設(shè)置為全帶寬（Full），測試結(jié)果為噪聲值；
3、噪聲和噪聲應(yīng)在板子滿載和卸載時(shí)進(jìn)行測試。
測試點(diǎn)電源，芯片供電引腳。
資格標(biāo)準(zhǔn)
具體資格標(biāo)準(zhǔn)參考芯片的要求。中試部門給出的資格標(biāo)準(zhǔn)（考慮我們的
測試情況，相對定義稍微放寬）：
1）通?；鶚O要求<1%的輸出電流（20MHz帶寬測試，結(jié)果可見
對于純噪聲）；
2）通常基極噪聲要求小于輸出電流的2%（全帶寬測試，結(jié)果可見
是噪音+噪音）。
注意事項(xiàng) 1) 測試時(shí)探頭盡量采用無源探頭；
2）就近原則，探頭的相線接在離測試電源最近的地線上。 并且接地環(huán)線要盡可能短；
3）請盡量把噪聲展開成如下圖形，最好記錄下它的頻率以便分析。
3）測試電流通斷波形
測試儀器示波器
測試模式將示波器探頭連接到被測電流，示波器設(shè)置為在上升沿或上升沿觸發(fā)。
然后開關(guān)電源，通過示波器觀察通電和通電波形。測試的原理是
選擇合適的時(shí)間長度可以在示波器上顯示完整的上電波形，并且
為了顯示波形問題。
測試點(diǎn)一般需要測試以下兩種開機(jī)和開機(jī)波形：
1）檢測芯片電源管腳的通斷波形：芯片的電源管腳；
2）檢測一個(gè)板/系統(tǒng)的上下電對其他板/系統(tǒng)的影響：系統(tǒng)電源。
合格標(biāo)準(zhǔn) 1）在電源輸出端進(jìn)行測試電流與電壓成什么比，通常要求電流上下電的過沖不超過被測電流
10%。 測試芯片后端時(shí)，可參考該級別的通用標(biāo)準(zhǔn)；
2）電源通電時(shí)，電流不得有較大的下降，斷電時(shí)，不得有較大的后坐力和
回到溝里。 （跌落和反沖不能超過芯片的啟動(dòng)工作電流），如果出現(xiàn)階躍現(xiàn)象，需要注意分析其影響；
3）注意，如果有負(fù)電流，需要根據(jù)芯片要求商量；
4）很多芯片采用多種電源供電（如外部I/O電流3.3V，內(nèi)核電流
1.8V)，這樣的電流之間可能會(huì)有上電時(shí)序要求，參考元件指南
評估測試結(jié)果是否令人滿意。
預(yù)防措施涵蓋以下情況：
1) 打開和關(guān)閉系統(tǒng)；
2）單板插拔；
3）插拔電源板；
4）檢測慢啟動(dòng)電路的參數(shù)
測試儀器
示波器
常用的測試方法-48V慢啟動(dòng)電路如右圖所示。測試時(shí)，使用多道示波器。 一個(gè)測試點(diǎn)在慢啟動(dòng)電路之前，另一個(gè)測試點(diǎn)在慢啟動(dòng)電路之后。
用示波器觀察兩個(gè)測試點(diǎn)的開機(jī)時(shí)間差。 其他如3.3V慢啟動(dòng)電路測試類似。
測試點(diǎn)如上圖所示。 注意探頭和探頭的相線不能接反，否則檢測結(jié)果可能錯(cuò)誤。
或?qū)υO(shè)備或探頭造成損壞。
資格標(biāo)準(zhǔn)
1）延遲時(shí)間：通常要求在20-200ms范圍內(nèi)；
2）上升時(shí)間：對于Trise，一般以ms級別為單位。 要求范圍盡可能小，但同時(shí)要求沖擊電壓符合合格標(biāo)準(zhǔn)；
3）無多次上下電現(xiàn)象（振蕩上下電）；
右圖是3.3V慢啟動(dòng)電路的測試結(jié)果。 Ch1（藍(lán)色）從背板輸入
3.3V電源信號(hào)，Ch2（紅色）為慢啟動(dòng)電路后的3.3V信號(hào)。
在上圖中，
可以看到整個(gè)慢啟動(dòng)時(shí)間分為幾個(gè)部分：
1.延時(shí)時(shí)間，圖中為慢啟動(dòng)時(shí)背板輸入電源有效
動(dòng)態(tài)電路的輸出時(shí)間差相當(dāng)于背板電源輸入的延時(shí)；
2、慢啟動(dòng)電路具有從輸出到輸出電流下降到10%幅值的時(shí)間；
3.上升時(shí)間，也就是圖中的Trise。 是緩啟動(dòng)電路輸出電流從10%上升到90%的時(shí)間；
4、輸出電流從90%下降到100%的時(shí)間；
其中第2項(xiàng)和第4項(xiàng)的參數(shù)可以忽略，平時(shí)我們只關(guān)注和Trise。
預(yù)防措施涵蓋以下情況：
1) 打開和關(guān)閉系統(tǒng)；
2）單板插拔；
3）插拔電源板；
5）測試電源電壓和沖擊電壓
測試儀器示波器
測試模式電源電壓：
方法一：使用電壓探頭。將電壓探頭放在待測電流通路上，用示波器
監(jiān)視器觀察上電電壓波形和上電后電壓穩(wěn)定波形。 測試時(shí)注意電壓探頭的方向；
技巧二：用電流鉗表在待測電流通路上進(jìn)行測試。
沖擊電壓：
用電壓探頭將電壓探頭夾在待測電流通路上，通過示波器觀察電源通斷時(shí)的電壓波形。 注意電壓探頭的方向。 最好在冷機(jī)時(shí)測試開機(jī)沖擊電壓，沖擊電壓最大。 最好在電路板滿載時(shí)測試電擊電壓。
測試點(diǎn)去掉單板（背板），在電源鏈路上引入串接的保險(xiǎn)絲，換上粗短的線材。
電壓探頭或鉗表檢測該導(dǎo)線上的電壓。
資格標(biāo)準(zhǔn)
1）電源電壓的穩(wěn)定值不能超過最大額定輸出電壓的90%；
2）沖擊電壓值不能超過額定輸出電壓的5倍。 3次以上應(yīng)引起注意；
3）單板在任何業(yè)務(wù)條件下的電壓必須小于電源的最小負(fù)載，并且必須充滿
滿足最大容性負(fù)載要求；
4）熔斷器尺寸的選擇與沖擊電壓的關(guān)系。如果浪涌電壓是熔斷器的
額定電壓的5-10倍，要觀察沖擊電壓的長短，保險(xiǎn)絲是速斷型，所以沖擊電壓的長度不能超過幾十微秒； 如果是慢熔斷型，脈沖電壓的長度不能超過幾百納秒。
防范措施
1、沖擊電壓試驗(yàn)應(yīng)符合下列條件：
1) 打開和關(guān)閉系統(tǒng)；
2）單板插拔；
3）插拔電源板；
2、沖擊電壓試驗(yàn)時(shí)，若有感性元件（電感等）
方便，拆下電感元件換上粗短的導(dǎo)線，再用電壓表或鉗形表
檢查這根線上的電壓。 由于電感元件本身具有抑制沖擊電壓的作用，
這種方法只適用于檢測靜電壓，檢測沖擊電壓時(shí)，可將電感元件撬起
然后前端連接粗線和短線的檢測。 如下。