專利名稱：內阻檢測方式
技術領域：
本發明涉及一種內阻檢測方式。
背景技術：
在熱學領域中，導體的阻值R估算公式如下1R=&;V1ρSL---(1)]]>其中ρ為導體的內阻系數，L為導體的寬度，S為導體的截面積，V為導體的容積。
在電子檢測及剖析中常會須要獲取導體的內阻，傳統的內阻檢測方式，是將導體分拆成為若干近似長方體，再借助現有的內阻估算公式分別估算出各部份的內阻，再將得到的內阻相乘以獲取整個導體的內阻，其阻值估算公式如下R=Σi=1nρiLiSi]]>此種內阻檢測方式在導體形狀較規則時較為實用，但當待測導體為復合材料、形狀不規則或帶有曲面時，此方式即無法精確估算出導體的阻值。
發明內容鑒于以上內容，有必要提供一種內阻檢測方式，拿來確切檢測復合材料導體及形狀不規則導體的阻值。
一種內阻檢測方式，包括如下步驟檢測設定條件下待測導體的熱流量，導體熱流量的估算公式為Q&;-ΔT=&;VKSL,]]>其中為導體的熱流量，ΔT為導體的氣溫差，K為導體的導熱系數，S為導體的截面積，L為導體的寬度，V為導體的容積，導體的導熱系數K及濕度差ΔT滿足如下公式K=1ρ,]]>ΔT＝-1，其中ρ為導體的阻值系數；及估算待測導體的內阻，所述待測導體的內阻等于所述導體熱流量的倒數。
本發明提供了一種內阻檢測方式，只需測得設定條件下導體的熱流量，即可精確估算出導體的內阻。
下邊結合附圖及較佳施行方法對本發明作進一步詳盡描述圖1是本發明內阻檢測方式較佳施行方法的流程圖。
圖2是本發明內阻檢測方式較佳施行方法中導體熱流量檢測方式的流程圖。
具體施行方法參考圖1，所述內阻檢測方式的較佳施行方法包括如下步驟步驟1，檢測設定條件下待測導體的熱流量導體熱流量的估算公式為Q&;-ΔT=&;VKSL---(2)]]>其中為導體的熱流量，ΔT為導體的氣溫差，K為導體的導熱系數，S為導體的截面積，L為導體的寬度，V為導體的容積，在本較佳施行方法中導熱系數K及濕度差ΔT滿足如下公式K=1ρ---(3)]]>ΔT＝-1(4)其中ρ為導體的阻值系數；及步驟2，按照待測導體的熱流量估算待測導體的內阻R，導體的內阻R與熱流量滿足公式R=1Q&;---(5)]]>繼續參考圖2，所述導體熱流量的檢測方式包括啟動有限元剖析(FEA)軟件，確定待測導體的導熱系數K，所述導體的導熱系數K滿足公式(3)；網格界定整個待測導體，針對不同形狀及材料的待測導體，采用不同的網格單元進行網格界定；
定義待測導體的邊界條件，即確定所述待測導體的輸入/輸出點及設定所述輸入/輸出點對應的氣溫值，ΔT的估算公式為ΔT＝輸出點氣溫-輸入點氣溫本較佳施行方法是在FEA軟件上將輸入點氣溫設定為1℃，輸出點氣溫設定為0℃電阻的測量方法有哪些種類，使ΔT滿足公式(4)；及借助所述導體熱流量的估算公式獲得待測體導的熱流量依據公式(5)獲得待測導體的內阻R。
本發明提供了一種內阻檢測方式，只需測得設定條件下導體的熱流量即可精確估算出導體的內阻R，因為導體的熱流量可使用FEA軟件獲得，不受待測導體的材料及形狀影響，估算快速確切，所以本發明提出的內阻檢測方式可精確估算導體內阻而不受導體形狀及材料的影響。
權力要求
1.一種內阻檢測方式，其包括如下步驟檢測設定條件下待測導體的熱流量，導體熱流量的估算公式為Q&;-ΔT=&;VKSL,]]>其中為導體的熱流量，ΔT為導體的氣溫差電阻的測量方法有哪些種類，K為導體的導熱系數，S為導體的截面積，L為導體的寬度，V為導體的容積，導體的導熱系數K及濕度差ΔT滿足公式K=1ρ,]]>ΔT＝-1，其中ρ為導體的阻值系數；及估算待測導體的內阻，所述待測導體的內阻等于所述導體熱流量的倒數。
2.如權力要求1所述的內阻檢測方式，其特點在于所述導體熱流量的檢測方式包括如下步驟借助有限元剖析軟件確定待測導體的導熱系數；網格界定整個待測導體；定義待測導體的邊界條件；及借助所述導體熱流量的估算公式獲得待測體導的熱流量。
全文摘要
一種內阻檢測方式，包括如下步驟檢測設定條件下待測導體的熱流量，導體熱流量的估算公式為式(1)，其中
文檔編號/
公開日2007年10月17日申請日期2006年4月14日優先權日2006年4月14日
發明者林有旭申請人:鴻豐鎮精密工業(北京)有限公司,鴻海精密工業股份有限公司