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和其他品牌的3D共焦顯微鏡比較具有如下特色

更新時間:2024-02-23 文章作者:佚名 信息來源:網(wǎng)絡(luò)整理 閱讀次數(shù):

1、直接真實顏色:采用白色光源深度測量顯微鏡,可直接獲得樣品表面的真實顏色。 無需合成顏色和形狀,從而避免信息失真。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

2、暗視野觀察:可實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡下的暗視野觀察zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

3、深度(高度)測量精度可達0.1納米:由于采用了相位干涉(PSI)和掃描干涉(VSI)技術(shù),測量精度達到了納米級。 干涉測量的結(jié)果不受樣品表面反射率不均勻尺寸和分布的影響,比其他激光3D顯微鏡的反射焦點測量方法更可靠。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

4.測量長寬比:1:12zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

徠卡材料共焦顯微鏡zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

徠卡 DCM 3DzQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

雙核 3D 輪廓儀結(jié)合了共焦成像和干涉測量技術(shù)zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

高分辨率自動化數(shù)字 3D 形貌測量zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

近年來,競爭性干涉測量技術(shù)和共焦圖像分析技術(shù)已廣泛應(yīng)用于非接觸表面計量。 這兩種技術(shù)都可以準(zhǔn)確可靠地測量從毫米到納米尺度的表面形貌。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

今天,徠卡顯微系統(tǒng)公司推出了一款結(jié)合了共焦成像和干涉測量技術(shù)優(yōu)勢的全新完整解決方案:徠卡材料共焦顯微鏡DCM 3D雙核三維測量顯微鏡。 除了緊湊而堅固的設(shè)計之外,徠卡材料共焦顯微鏡 DCM 3D 也是對重要工業(yè)部件表面的毫米級和納米級幾何形狀進行高速無損檢測的出色工具。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

從研發(fā)到質(zhì)量檢測實驗室深度測量顯微鏡,再到用于在線過程控制的機器人驅(qū)動系統(tǒng),新型 Leica DCM 3D 專為需要分辨率低至 0.1 nm 的各種高速測量應(yīng)用而設(shè)計。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

3 系統(tǒng)合一:zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

- 明場和暗場彩色數(shù)碼顯微鏡zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

- 高分辨率共焦成像和測量系統(tǒng)zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

- 通過簡單的雙光學(xué)干涉輪廓儀zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

只需 3 步即可獲得高度準(zhǔn)確的結(jié)果zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

3秒獲得3D地形zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

即使在復(fù)雜的表面上也能快速輕松地進行測量zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

涵蓋整個范圍——從超光滑表面到粗糙表面zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

微光學(xué)測量技術(shù)滿足了計量學(xué)中的兩個重要要求:無損測量和高精度的結(jié)合。 徠卡材料共焦顯微鏡 DCM 3D 的測量范圍從幾納米到幾毫米,使其適合各種應(yīng)用。 除了能夠滿足從超光滑表面到極其粗糙表面的應(yīng)用要求外,徠卡材料共焦顯微鏡DCM 3D的特殊設(shè)計還能夠?qū)崿F(xiàn)高速測量。 這不僅可以節(jié)省寶貴的時間,還可以顯著提高您的投資回報。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

Leica DCM 3D 的集成技術(shù)克服了傳統(tǒng)輪廓系統(tǒng)的物理限制。 通過簡單的系統(tǒng),可以分析粗糙表面(使用共焦)和光滑表面(使用垂直掃描干涉測量法或 VSI)以及超光滑表面(使用相移干涉測量法或 PSI)。 在共焦模式下,可以獲得亞微米級的橫向分辨率和納米范圍內(nèi)的縱向分辨率; 而在干涉測量模式下,可以獲得更大的顯微鏡視場和亞納米Z軸分辨率。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

共焦分析的特點zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

Leica 共焦顯微鏡 DCM 3D 的共焦模式用于測量異常粗糙到光滑表面的形貌。 即使不接觸樣品表面,精細的表面結(jié)構(gòu)也清晰可見。 在幾秒鐘內(nèi),樣品以預(yù)定的步數(shù)垂直掃描,在此期間表面上的每個點都穿過焦平面。 濾除焦點之外的所有圖像信息,獲取的共焦圖像以高分辨率和高對比度的三維形式提供有關(guān)樣品的詳細信息。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

使用 Leica 共焦顯微鏡 DCM 3D 進行共焦分析可在數(shù)秒內(nèi)提供高橫向分辨率。 然而,將共焦成像應(yīng)用于表面輪廓分析的主要原因是可以沿 Z 軸進行測量。 具有較高數(shù)值孔徑 (0.95) 和較高放大倍率的物鏡有利于測量局部陡坡超過 70° 的光滑表面。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

一系列測量原理的優(yōu)點zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

使用干涉測量法獲取準(zhǔn)確的高度信息zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

干涉測量模式用于獲得高縱向分辨率。 在徠卡干涉儀物鏡內(nèi)部,光束穿過分束器并被引導(dǎo)至樣品表面和內(nèi)置參考鏡。 從樣品表面和參考鏡反射的一部分光重新組合形成干涉條紋圖案。 該圖案允許測量觀察到的樣品區(qū)域的相對垂直位置,從而提供高度準(zhǔn)確的表面信息。 根據(jù)所需的縱向分辨率水平,用戶只需按一下按鈕即可執(zhí)行 VSI(垂直掃描干涉測量)或 PSI(相移干涉測量)測量。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

適用于各種表面的 VSI 輪廓加工zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

白光垂直掃描干涉測量 (VSI) 模式用于測量光滑至中等粗糙表面的表面高度。 與共焦模式類似,對樣品進行垂直逐步掃描,使得表面上的每個點都通過焦點,并且在表面上每個點的焦點位置處出現(xiàn)大的干涉條紋對比度。 通過確定窄條紋包絡(luò)線的峰值,可以獲得每個像素位置的表面高度。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

亞納米高度輪廓的 PSI 測量zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

相移干涉測量 (PSI) 模式用于獲得異常光滑、連續(xù)表面的高分辨率測量。 在不到3秒的時間內(nèi),可以以亞納米分辨率測量超光滑表面(例如鏡面光滑晶圓)的結(jié)構(gòu)參數(shù)。 為了達到這種水平的分辨率,聚焦的樣品被垂直地逐步掃描,每一步都精確到波長的一小部分。 輪廓整形算法生成表面的相位圖,并且通過去扭曲步驟將相位圖轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的高度輪廓。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

使用雙核使您的優(yōu)勢加倍zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

雙核技術(shù)的優(yōu)勢zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

通常使用白光光學(xué)干涉輪廓儀,因為接觸式表面形貌儀器很容易損壞精致的表面和表面結(jié)構(gòu)。 通過使用徠卡 DCM 3D 的干涉測量技術(shù),可實現(xiàn)亞納米級的縱向分辨率,因此即使是光滑的表面也可以高精度、快速測量。 然而,對于粗糙表面的測量,可測量的大斜率受到干涉測量物鏡相對較低的數(shù)值孔徑 (NA) 的限制。 為了測量陡坡,徠卡DCM 3D雙核測量顯微鏡采用了NA為0.95、透光效率高的專用共焦物鏡。 這使得能夠以高重復(fù)性測量局部坡度高達 70° 的中等光滑到粗糙的表面。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

表面結(jié)構(gòu)特征描述簡單易行zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

對于產(chǎn)品(例如太陽能電池)的質(zhì)量控制和生產(chǎn)控制,徠卡 DCM 3D 共焦輪廓儀可以在幾秒鐘內(nèi)控制硅表面紋理、粗糙度、圓錐統(tǒng)計數(shù)據(jù)和金屬接觸。 與傳統(tǒng)系統(tǒng)耗時的測量相比,徠卡DCM 3D只需10秒即可獲得更大掃描區(qū)域的無損三維測量。 錐體局部較大的陡坡需要使用主要在共焦技術(shù)中提供的高數(shù)值孔徑物鏡。 通常使用放大倍率為 150X、數(shù)值孔徑為 0.95 的徠卡物鏡。 通過沿物鏡焦點位置掃描表面幾微米,逐個平面收集共焦圖像。 結(jié)果是具有無限焦距和有關(guān)錐體高度的三維信息的圖像,可以自動合并到預(yù)定義的報告中。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

在很短的時間內(nèi)了解有關(guān)樣品的更多信息zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

微電子元件的質(zhì)量控制可能需要測量一小部分樣品并快速概覽較大的掃描區(qū)域。 此外,大華生產(chǎn)線的產(chǎn)量往往是成功的關(guān)鍵因素。 通常,具有高數(shù)值孔徑 (NA) 的物鏡也具有高放大倍率,這會將視場減小到僅幾微米。 為了克服傳統(tǒng)系統(tǒng)的這一限制,Leica DCM 3D 具有快速的地形拼接速度。 通過使用 XY 拼接模式,捕獲的 3D 模型的各個部分在遠大于單個顯微鏡視野的區(qū)域中組合在一起。 表面數(shù)據(jù)顯示樣品較大表面積的無縫、高精度模型,包括聚焦紋理,同時保留單個微觀視場的原始屬性。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

維護成本低或無需維護,效果更好zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

Leica DCM 3D 提供無振動掃描,并通過使用微顯示技術(shù)延長儀器使用壽命。 傳統(tǒng)的共焦顯微鏡在掃描頭內(nèi)使用可移動的機械部件(掃描鏡和旋轉(zhuǎn)盤),這會影響儀器的使用壽命,并且需要定期進行預(yù)處理以保持性能,并且產(chǎn)生的機械振動也會增加。 測量噪聲。 Leica DCM 3D 采用微顯示技術(shù),這是一種內(nèi)部沒有移動部件的快速切換設(shè)備。 這使得掃描共焦圖像或干涉測量圖像快速且穩(wěn)定,并延長了儀器的使用壽命。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

Leica DCM 3D 設(shè)計為免維護。 光束路徑中集成了兩個高功率 LED,可提供平均 20,000 小時(平均故障間隔時間)的長使用壽命。 白光 LED 用于彩色明場檢查、具有真實顏色紋理的共焦圖像以及 VSI(垂直掃描干涉測量)測量。 藍色 LED 用于高分辨率共焦成像和 PSI(相移干涉測量)測量。 藍色 LED 的短波長將橫向分辨率提高至 0.15μm,并將縱向分辨率的 PSI 噪聲提高至 0.1nm。 與其他旋轉(zhuǎn)磁盤或基于激光的系統(tǒng)相比,擁有成本顯著降低。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

利用兩個集成攝像頭系統(tǒng)zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

Leica DCM 3D 的主要計量圖像傳感器是集成的高分辨率 CCD 相機,可高速捕獲黑白圖像。 此外,彩色相機可用于明場表面檢查。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

定制化易用系統(tǒng)zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

創(chuàng)建您自己的標(biāo)準(zhǔn)zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

采集軟件控制 Leica DCM 3D Dual 的自動功能。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

該軟件使所有測量變得簡單。 用于顯示和測量數(shù)據(jù)的基本工具集是軟件包的組成部分。 只需單擊鼠標(biāo)即可自動在技術(shù)、照明方法和設(shè)置之間切換。 例如,單擊按鈕即可顯示測量結(jié)果:只需按“2D”按鈕即可獲得樣品的高度輪廓以及二維圖像,或者按“3D”按鈕可獲得三維圖像。維度效應(yīng)。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

使用集成的專業(yè)知識工具獲得自動測量,這進一步簡化了用戶界面。 一旦決定建立完全個性化的報告標(biāo)準(zhǔn),未來的所有結(jié)果都將使用此報告格式創(chuàng)建。 多種措施和基于帳戶的訪問級別可以保護方法和結(jié)果。zQj物理好資源網(wǎng)(原物理ok網(wǎng))

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